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製品情報

熱分析 / 物性装置

様々な材料開発、評価に必須な熱計測システム、熱物性評価装置を赤外線加熱技術と共にお客様の使用目的に応じた装置をご提供いたします。

キセノンフラッシュ法熱定数測定装置 TD-1シリーズ

熱伝導性高分子材料の研究開発・品質管理に。
放熱フィルムなどの厚さ方向や面内異方性評価測定が可能です。
レーザ...

周期加熱法拡散率測定装置 FTCシリーズ

フラッシュ法では測定が難しい薄いフィルム試料を簡便に評価。
交流ジュール加熱法を用いてフィルム状高分子、紙、セラミックスな...

光交流法熱定数測定装置 LaserPITシリーズ  

各種フィルム状膜の面方向の熱伝導性評価。
レーザを交流的に照射AC法(Angstrom法)により、薄板材料の面方向熱拡散率...

光交流法比熱測定装置 ACC

超高感度相対比熱測定が可能。
本装置は光交流法(AC法)による超高感度相対比熱測定装置です。
液体ヘリウム温度...

定常法熱伝導率測定装置 GHシリーズ  

高分子、ガラスなどの熱伝導性評価。
本装置は、米国規格ASTM E1530に準拠した熱流計方式定常法熱伝導率測定装置です。...

走査型サーマルプローブマイクロイメージ STPM-1000  

材料の面内分布評価、分析。
本装置では、ゼーベック係数と熱伝導率の面内2次元分布を同時に測定する装置です。
2...

熱電特性評価装置 ZEM-5シリーズ

各種熱電材料の特性や薄膜などの特殊仕様に対応したシリーズ。
高温、高抵抗、薄膜など、各種材料の特長に特化した仕様で、さまざ...

熱電特性評価装置 ZEM-3シリーズ

熱電材料の熱電率(ゼーベック係数)と電気伝導率を同時に測定する装置です。簡単な操作で-80℃~1000℃までの温度範囲の測定機を準備し...

発電効率特性評価装置 PEM-2

熱電発電モジュールの特性評価。
熱電発電モジュールに最大500℃の温度差をつけて、モジュールに一次元の熱流Qを貫流させたと...

小モジュール用熱電変換効率評価装置 Mini-PEM

単素子や一対モジュールなどの熱電変換効率を測定 本装置は、熱電モジュールの発電量だけでなく、変換効率を評価できる装置です。変換効率は、4 端子法による計測に基づいた発電量の電流依存性と熱流計で計測した熱流量から評価します。高温部は、500℃(標準仕様)まで上げることができ、低温部は、液体を流し冷却します。

横振動型内部摩擦測定装置 IFTシリーズ

鉄鋼中のカーボン、窒素の定量分析。
自由減衰法により鉄鋼の内部摩擦を測定する装置です。

金属、半導体用電気抵抗測定装置 TERシリーズ

金属の相変態、時効、再結晶反応。
金属合金、半導体の電気抵抗を直流四端子法で精密測定が可能です。

2ω法ナノ薄膜熱伝導率計 TCN-2ω

簡単にナノ薄膜の熱伝導率評価が可能。
2ω測定においてナノ薄膜の厚さ方向の熱伝導率を測る世界で唯一の市販装置です。他の方式...

絶縁抵抗測定装置 EHRシリーズ

絶縁体試料の温度依存性測定。
セラミックス、プラスチックス、ガラスなどの絶縁物の温度依存性測定が可能です。

断熱型比熱測定装置 SH-3000シリーズ

比熱容量、潜熱、変態点の測定。
断熱制御方式により精密な比熱容量、潜熱、変態点の測定が可能です。

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