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製品情報

レーザ熱膨張計 LIXシリーズ

レーザ熱膨張計 LIXシリーズ

最少分解能2nmの超精密熱膨張測定。
低熱膨張材料や各種電子部材の精密膨張測定が可能です。また、フィルムの厚さ方向の膨張測定も可能です。



用途

  • 有機フィルムの厚さ方向膨張測定
  • 低膨張ガラスの高精度膨張測定
  • 封止材の膨張測定

特長

厚さ50~500μmの高分子フィルム材の厚さ方向測定が可能

特許や規格

JISR3251-1995に準拠
平行移動式試料ホルダ(特許)

仕様

型式 LIX-2M LIX-2L
測定物性 熱膨張
温度範囲 室温~700℃ -150℃~200℃
試料寸法 φ3~6㎜×長さ10㎜~15㎜ 長さ方向の両端は球面仕上げ
測定雰囲気 真空中・低圧高純度Heガス中
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