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製品情報

表面分析装置

アルバックファイの表面分析技術は材料評価に不可欠な技術として、バイオなどの基礎的研究から様々な新材料開発などの応用研究、品質管理や故障解析など、多様な分野でご利用いただけます。

イオン銃/電子分光器(CMA) FIG-5 パッケージ

本イオン銃は、ICF70取付のコンパクトなイオン銃でありながら、最大10 μAのビーム電流、150 μm以下のビーム径、2 mA/cm...

イオン銃/電子分光器(CMA) USG-3 パッケージ

低価格 2kVまで加速可能 ポートアライナー付 ご希望により取り付けフランジからイオン銃先端までの長さを調整(オプション)

飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS)PHI nanoTOF II™

nanoTOF II は、イオン透過特性に優れたトリプルフォーカス静電アナライザ(TRIFT型アナライザ)を継承しつつ、新しい一次イオン銃に...

四重極型二次イオン質量分析装置 (D-SIMS)PHI ADEPT-1010

二次イオン質量分析法 ( SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry ) は試料にイオンを照射し、試料...

走査型オージェ電子分光分析装置 (AES/SAM)PHI 710

オージェ電子分光法 ( AES: Auger Electron Spectroscopy) は、試料に電子線を照射したときに放出される...

走査型オージェ電子分光分析装置 (AES/SAM)PHI 4700 Thin Film Analyzer

電子分光法 ( AES: Auger Electron Spectroscopy) は、固体表面に電子線を照射することにより放出される...

走査型X線光電子分光分析装置 (XPS/ESCA)PHI Quantera II

X線光電子分光法 (XPS: X-Ray Photoelectron Spectroscopy, ESCA: Electron Spe...

走査型X線光電子分光分析装置 (XPS/ESCA)PHI X-tool

PHIX-toolは簡単操作で高性能XPSを実現する自動マイクロXPS装置です。

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