表面分析装置
アルバックファイの表面分析技術は材料評価に不可欠な技術として、バイオなどの基礎的研究から様々な新材料開発などの応用研究、品質管理や故障解析など、多様な分野でご利用いただけます。
イオン銃/電子分光器(CMA) USG-3 パッケージ
低価格 2kVまで加速可能 ポートアライナー付 ご希望により取り付けフランジからイオン銃先端までの長さを調整(オプション)
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS)PHI nanoTOF II™
nanoTOF II は、イオン透過特性に優れたトリプルフォーカス静電アナライザ(TRIFT型アナライザ)を継承しつつ、新しい一次イオン銃に...