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製品情報

表面分析装置

アルバックファイの表面分析技術は材料評価に不可欠な技術として、バイオなどの基礎的研究から様々な新材料開発などの応用研究、品質管理や故障解析など、多様な分野でご利用いただけます。

XPS / ESCA

X線光電子分光法 (XPS: X-Ray Photoelectron Spectroscopy, ESCA: Electron Spect...

AES

オージェ電子分光法 ( AES: Auger Electron Spectroscopy) は、試料に電子線を照射...

SIMS

二次イオン質量分析法 ( SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry ) は試料にイオン...

イオン銃

様々な出力のイオンガンをご用意しています。ご用途に合うものを選択いただけます。

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